机译:使用最终状态测量WW和WZ生产横截面,在完整的CDF运行II数据集中使用带电Lepton和重型风味喷气机的最终状态
机译:使用CDF II上的轻子+射流最终状态测量WW + WZ生产截面
机译:pp碰撞中W +喷嘴最终状态下WW和WZ产量的测量
机译:包容式喷射横截面和CMS的强耦合常数测量
机译:在CDF下以半轻衰变模式测量WW + WZ生产截面。
机译:在7 TeV的质子-质子碰撞中测量包括在内的3射流产生的横截面并确定TeV范围内的强耦合常数
机译:在完整的CDF Run II数据集中使用带充电的轻子和重味射流的最终状态测量WW和WZ生产截面